和呈推出新 電子元器件老化測試系統(tǒng) 近日，上海和呈推出了電子元器件老化測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)主要用于對探井設(shè)備電路板中多種電子元器件的入廠篩選與檢驗，其中包括對電阻、電容、電感等常用元器件的檢測。 作為專業(yè)的電子元器件 老化測試系統(tǒng)，其可在室溫至180度的任意溫度點下，對電子元器件進(jìn)行功能、電氣指標(biāo)的自動化測試，溫度測量精度可達(dá)0.1℃。該測試系統(tǒng)由老化板、老化插座、負(fù)載板及泛華恒興自主研發(fā)的信號路由矩陣組成，模塊化設(shè)計保證了系統(tǒng)具有強(qiáng)大的擴(kuò)展性。系統(tǒng)采用大腔體設(shè)計，可接受多16塊不同的老化板同時進(jìn)行測試。老化板適配夾具耐溫可達(dá)270℃，接口可基于元器件任意定制。同時，該系統(tǒng)還可以任意設(shè)置老化溫度點、老化時間與循環(huán)測試時間間隔，以滿足不同的測試需求。
電子元器件老化測試系統(tǒng)擁有豐富儀器和軟件算法功能，并可對8類不同被測件如：電阻(1Ω~10MΩ)、電容(1PF~1F)、電感(10nH~100H)、穩(wěn)壓器、二極管以及變壓器等多種元器件的測試和評判，測試內(nèi)容包括LCR、電容耐壓、三端穩(wěn)壓器紋波、信號變壓器帶寬等項目。
該系統(tǒng)專注于在線環(huán)境仿真與性能檢測，除裝卸件采用手動完成外，測試過程均由系統(tǒng)自動完成，操作簡單，在節(jié)約生產(chǎn)時間的同時，降低了設(shè)備的總體投入成本。此外，還具有強(qiáng)大的數(shù)據(jù)存儲、曲線分析與報表生成功能，可得出元器件在老化過程中的特性變化，并對產(chǎn)品缺陷溯源，使操作管理更加人性便捷。
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